| Faixa de comprimento de onda | : | 190-1100nm |
| Largura de banda espectral | : | 2nm (5nm, 4nm, 1nm, 0,5nm opcional) |
| Precisão do comprimento de onda | : | ±0,3nm |
| Reprodutibilidade do comprimento de onda | : | ≤0,15nm |
| Sistema Fotométrico | : | Feixe duplo, varredura automática, detectores duplos |
| Precisão fotométrica | : | ±0,3τ (0~100τ) ± 0,002A (0~0,5A) ±0,004A (0,5~1A) |
| Reprodutibilidade Fotométrica | : | ≤0,15%τ |
| Modo de trabalho | : | T, A, C, E |
| Faixa Fotométrica | : | -0,3-3,5A |
| luz difusa | : | ≤0,05%τ (Nal, 220nm, NaNO2 360nm) |
| Nivelamento da linha de base | : | ±0,002A |
| Estabilidade | : | ≤0,001A/h (a 500 nm, após o aquecimento) |
| Barulho | : | ±0,001A (a 500 nm, após o aquecimento) |
| Mostrar | : | LCD azul claro de 6 polegadas de altura |
| Detector | : | Fotodiodo de silício |
| Poder | : | CA 220 V/50 Hz, 110 V/60 Hz 180 W |
| Dimensões | : | 630×470×210mm |
| Peso | : | 26kg |
| Faixa de comprimento de onda | : | 190-1100nm |
| Largura de banda espectral | : | 2nm (5nm, 4nm, 1nm, 0,5nm opcional) |
| Precisão do comprimento de onda | : | ±0,3nm |
| Reprodutibilidade do comprimento de onda | : | 0,15nm |
| Sistema Fotométrico | : | Monitoramento de proporção de feixe dividido, varredura automática, detectores duplos |
| Precisão fotométrica | : | ±0,3τ (0~100τ) ± 0,002A (0~0,5A) ±0,004A (0,5~1A) |
| Reprodutibilidade Fotométrica | : | 0,2%τ |
| Modo de trabalho | : | T, A, C, E |
| Faixa Fotométrica | : | -0,3-3A |
| luz difusa | : | ≤0,05%τ (Nal, 220nm, NaNO2 360nm) |
| Nivelamento da linha de base | : | ±0,002A |
| Estabilidade | : | ≤0,001A/30min (a 500nm, após o aquecimento) |
| Barulho | : | ±0,001A (a 500 nm, após o aquecimento) |
| Mostrar | : | LCD azul claro de 6 polegadas de altura |
| Detector | : | Fotodiodo de silício |
| Poder | : | CA 220 V/50 Hz, 110 V/60 Hz 180 W |
| Dimensões | : | 630×470×210mm |
| Peso | : | 26kg |
| Faixa de comprimento de onda | : | 190-1100nm |
| Largura de banda espectral | : | 2nm (5nm, 1nm, opcional) |
| Precisão do comprimento de onda | : | ±0,3nm |
| Reprodutibilidade do comprimento de onda | : | 0,2nm |
| Sistema Fotométrico | : | Feixe único, grade plana de 1200L/mm |
| Precisão fotométrica | : | ±0,3τ (0~100τ) ± 0,002A (0~0,5A) ±0,004A (0,5~1A) |
| Reprodutibilidade Fotométrica | : | ≤0,15%τ |
| Modo de trabalho | : | T, A(-0,3-3A), C, E |
| Faixa Fotométrica | : | -0,3-3A |
| luz difusa | : | ≤0,05%τ (Nal, 220nm, NaNO2 360nm) |
| Nivelamento da linha de base | : | ±0,002A |
| Estabilidade | : | ≤0,001A/30min (a 500nm, após o aquecimento) |
| Barulho | : | ±0,001A (a 500 nm, após o aquecimento) |
| Mostrar | : | LCD azul claro de 6 polegadas de altura |
| Detector | : | Fotodiodo de silício |
| Poder | : | CA 220 V/50 Hz, 110 V/60 Hz 140 W |
| Dimensões | : | 530×410×210mm |
| Peso | : | 18kg |
| Faixa de comprimento de onda | : | 320-1100 nm |
| Largura de banda espectral | : | 2nm (5nm, 1nm, opcional) |
| Precisão do comprimento de onda | : | ±0,5nm |
| Reprodutibilidade do comprimento de onda | : | 0,2nm |
| Sistema Fotométrico | : | Feixe único, grade plana de 1200L/mm |
| Precisão fotométrica | : | ±0,3τ (0~100τ) ± 0,002A (0~0,5A) ±0,004A (0,5~1A) |
| Reprodutibilidade Fotométrica | : | ≤0,15%τ |
| Modo de trabalho | : | T, A, C, E |
| Faixa Fotométrica | : | -0,3-3A |
| luz difusa | : | ≤0,05%τ (Nal, 220nm, NaNO2 360nm) |
| Nivelamento da linha de base | : | ±0,002A |
| Estabilidade | : | ≤0,001A/30min (a 500nm, após o aquecimento) |
| Fonte de luz | : | Lâmpada halógena de tungstênio |
| Mostrar | : | LCD azul claro de 6 polegadas de altura |
| Detector | : | Fotodiodo de silício |
| Poder | : | CA 220 V/50 Hz, 110 V/60 Hz 140 W |
| Dimensões | : | 530×410×210mm |
| Peso | : | 18kg |